Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀

Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀配備了比例計數(shù)管探測器，適用于質(zhì)量控制，來料檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控。由于它測量空間大，故而適合測量有復(fù)雜幾何形狀的大尺寸樣品。XDL系列不僅可以配備簡單樣品平臺，還可以配置不同的XY工作臺和Z軸。因而可用于自動化批量測試。
典型的應(yīng)用為測量電鍍鍍層及電子半導體工業(yè)中的功能性鍍層。XDL型儀器還可以快速精確測量防腐蝕性或裝飾性鍍層，如銅上鍍鎳。此外還可以測量電鍍?nèi)芤旱某煞帧?br /> 配備微距焦X射線管的XDLM型儀器是測量微小結(jié)構(gòu)（如插針和其他電子元器件）的理想設(shè)備

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
配備硅PIN探測器及微距焦X射線管的XDAL型儀器即使在含量很小和鍍層很薄的情況下，也可以提供可靠的分析結(jié)果。它適用于來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控及研發(fā)領(lǐng)域。XDAL配備有可切換準直器、基本慮片及快速可編程XY平臺。因而可以在運行過程中自動對準測量位置，自動完成不同批次的測量。

XDAL型儀器的典型應(yīng)用包括硬質(zhì)鍍層分析，如鉆頭和切割設(shè)備、合金材料分析以及電子和半導體工業(yè)中的超薄鍍層測量。此外，使用XDAL型儀器，還可完成于航空技術(shù)中的“高可靠性”檢測以及RoHS指令中的電子產(chǎn)品檢測，如檢測焊料鍍層中的鉛含量等。