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FM-204G飼料顆粒谷物硬度計(jì)是我公司最新設(shè)計(jì)研發(fā)的一種數(shù)顯式谷物飼料顆粒硬度計(jì)。其具有高精度、易操作、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)。科學(xué)的使用測(cè)試范圍為滿量程的10%~100%，計(jì)量部門建議不要使用滿量程的1%以下部分。同時(shí)，在儀器和被測(cè)試物就位后開(kāi)始測(cè)試前，按ZERO(置零)鍵清零以消除夾具等重量

FM-204T系列片劑硬度計(jì)是我公司最新設(shè)計(jì)研發(fā)的一種數(shù)顯式片劑硬度計(jì)。其具有高精度、易操作、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)?？茖W(xué)的使用測(cè)試范圍為滿量程的10%~100%，計(jì)量部門建議不要使用滿量程的1%以下部分

LW-20韋氏硬度計(jì)LW-20A/LW-20B/LW-B75/LW-B75B/LW-BB75/LW-BB75B用于快速檢測(cè)鋁合金型材、管材、板材、鋁工 件及其他軟金屬的硬度。是一種可現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)試鋁合金硬度的儀器。韋氏硬度計(jì)使用方便，一卡即可，硬度值直接讀出。 用于快速檢測(cè)鋁合金型材、管材、板材、鋁工件及其他軟金屬的硬度。特別適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)成批產(chǎn)品進(jìn)行快速、非破壞性的逐件合格檢查。

MRX-XJB-4-500mL小型行星真空攪拌機(jī)本產(chǎn)品是集真空混合、分散為一體的高效設(shè)備，適用于電池實(shí)驗(yàn)過(guò)程中正,負(fù)極漿料混合工序，以及粉狀材料、各種陶瓷的混合；由于攪拌在真空狀態(tài)完成，完全實(shí)現(xiàn)了無(wú)氣泡，因此提高了材料的填充性及模型的致密性。

菲希爾FMP30 鐵素體儀FERITSCOPE_FMP30侵蝕性物質(zhì)以及高壓的情況下，鐵素體含量至關(guān)重要。特別是涉及到化工廠、能源設(shè)施及工廠中的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)，F(xiàn)ISCHER 手持式設(shè)備的優(yōu)勢(shì)將非常顯著。為 FERITSCOPE FMP30 提供多種探頭，通過(guò)這些探頭，即使在難以觸及的區(qū)域中也能夠可靠地測(cè)定鐵素體的含量。

菲希爾SIGMASCOPE SMP350測(cè)定非鐵磁性金屬電導(dǎo)率儀適用于測(cè)定非鐵磁性金屬（如鋁或銅）的電導(dǎo)率。通過(guò)測(cè)得的電導(dǎo)率能夠進(jìn)一步得出與熱處理材料的硬度與強(qiáng)度相關(guān)的結(jié)論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據(jù)。為此儀器使用了相敏渦流法。該方法經(jīng)認(rèn)證可用于符合標(biāo)準(zhǔn) DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 的電導(dǎo)率測(cè)量。

菲希爾貴金屬檢測(cè)SIGMASCOPE? GOLD破壞性的測(cè)試會(huì)導(dǎo)致一定量的價(jià)值損失。隨著產(chǎn)品線SIGMASCOPE GOLD和X射線的推出，F(xiàn)ISCHER提供了兩種無(wú)損的方法，在貴金屬幣和金條的真假需要快速、精確的測(cè)試時(shí)相得益彰

菲希爾CMS2/STEP庫(kù)倫儀COULOSCOPE? CMS2庫(kù)侖法金屬鍍層厚度測(cè)厚儀作為測(cè)量鍍層厚度最簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。

菲希爾Fischer MMS? INSPECTION DFT+DMP+SPG用于測(cè)量和記錄與涂裝過(guò)程有關(guān)的所有氣象參數(shù)。SPG機(jī)型可以在瞬間完成對(duì)表面粗糙度的測(cè)量。所有這三款儀器都包含于我們的防腐套裝之中。另外還可選擇Bresle鹽分分析套件，用于快速簡(jiǎn)便地測(cè)量表面鹽污染情況。

菲希爾ST30微米劃痕儀全自動(dòng)劃痕儀簡(jiǎn)介可以用于分析薄膜及涂層材料的結(jié)合力和附著力等特性，例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩繪釉漆、光學(xué)薄膜、微電子鍍膜、保護(hù)性薄膜、裝飾性涂層等材料表面的附著力、斷裂及形變分析，基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、橡膠、半導(dǎo)體、玻璃、礦物、陶瓷以及有機(jī)材料等。

XDV-SDD型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)，是全自動(dòng)測(cè)量樣品的理想設(shè)備。

菲希爾_HM2000S微納米壓痕儀FISCHERSCOPE? HM2000是一款遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 14577，采用儀器化壓入測(cè)試方法的高性價(jià)比納米壓痕儀。采用該儀器，可測(cè)量難以對(duì)位的被測(cè)位置，十分適用于研發(fā)、質(zhì)量控制、來(lái)料檢驗(yàn)和過(guò)程控制等領(lǐng)域。