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SRM-1(D)型表面粗糙度測量儀 SRM-1(D)型表面粗糙度測量儀 的操作和測量結(jié)果的運算由電腦完成,直接顯示測量數(shù)據(jù)和粗糙度輪廓曲線;使用方便,測量效率高。 SRM-1(D)型表面粗糙度測量儀
byko-test 8500 涂層測厚儀 byko-test 8500 涂層測厚儀 適用模塊化設計,提供了廣泛的應用范圍,多種探頭能作最靈活的使用??梢栽诟鞣N金屬底材上測量,鐵、鋼、銅、鋁、鋅、黃銅和鈦。
美國DeFelsko公司PosiTector 6000系列涂鍍層測厚儀用于測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層,以及有色金屬(如銅、鋁、奧氏體不銹鋼)上的絕緣層。符合ISO 19840/2178/2360/2808, ASTM B244/B499 /D1186/D1400/D7091/ E376/G12, BS3900-C5, SSPC-PA2 等標準。
ED300氧化膜測厚儀 ED300氧化膜測厚儀 是ED200的改進型。儀器性能穩(wěn)定、測量準確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟耐用,符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流法》,
PAL-HIKARi 2 (葡萄)無損糖度計 無損非破壞式糖度計(葡萄) PAL-HIKARi2,又稱為無損糖度計。 無需切取果肉!無需榨汁取樣! 通過探測器直接對果肉實現(xiàn)糖度檢測!結(jié)果三秒即現(xiàn)!快速
HI96802(果糖)白利糖度折光分析儀測量液體溶液樣品折光率,轉(zhuǎn)化為%果糖含量,樣品的折光率轉(zhuǎn)化為質(zhì)量百分比單位表示(%W/W)。