Picodentor HM500納米級(jí)涂層硬度測(cè)試儀

德國(guó)菲希爾Picodentor HM500是一款納米級(jí)的儀器化壓痕測(cè)試儀器，如測(cè)量厚度小于1μm各類覆蓋層。包括一體化大理石基座以外，該測(cè)量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置還包括可編程的高精度XY測(cè)量平臺(tái)，配有三種物鏡可自動(dòng)對(duì)焦和檢測(cè)的顯微鏡，以及主動(dòng)減震臺(tái)。

PICODENTOR HM500十分適合復(fù)雜的測(cè)量應(yīng)用，如拋光后的薄切片截面或半導(dǎo)體行業(yè)中的鍵合絲的彈性和塑性性能的測(cè)定。
另外，對(duì)于一些特殊需求的樣品表面特征描述，該測(cè)量系統(tǒng)還可以增配原子力顯微鏡(AFM), 在納米尺度下觀察材料表面微小的變化。

Picodentor HM500用于接插件硬度測(cè)試
接插件的一些重要性能，如耐磨性和粘結(jié)性，可以通過儀器化壓痕法測(cè)定。接觸面會(huì)選擇性的覆有各種鍍金層（根據(jù)其合金成分不同，其馬氏硬度分布范圍在1200-6000 N/mm2) ，且為了控制成本，其厚度小于1μm。在測(cè)量方面有很多挑戰(zhàn)：極薄的鍍層要求壓頭與樣品的零位接觸過程極其精確，這事精準(zhǔn)測(cè)量的前提，同時(shí)由于接插件的尺寸限制對(duì)測(cè)量點(diǎn)定位要求極高。

即使這樣苛刻的測(cè)量應(yīng)用，也可以通PICODENTOR HM500的高測(cè)量精度測(cè)量方案得以解決。在0.2μm的鍍金層上反復(fù)測(cè)量其馬氏硬度，可以獲得小于5%
的測(cè)量偏差。

Picodentor HM500用于樹脂鏡片硬度測(cè)試
樹脂眼鏡片表面通常會(huì)有幾層不同厚度的覆蓋層來增強(qiáng)其表面的防刮、防水和抗反射性能，覆蓋層厚度范圍通常在納米級(jí)別。要測(cè)量這種極薄涂層的機(jī)械性能，則要求測(cè)量系統(tǒng)在皮米級(jí)的位移測(cè)量方面和微牛級(jí)載荷控制放控制方面具備極高的精度。

Picodentor HM500納米級(jí)涂層硬度測(cè)試儀特點(diǎn)
無需復(fù)雜樣品制備的快速測(cè)量，十分適用于研發(fā)、質(zhì)量控制、來料檢驗(yàn)和過程控等領(lǐng)域。

Picodentor HM500僅需60秒即可將樣品移至測(cè)量點(diǎn)并完成零位檢測(cè)擁有極高精度的XY測(cè)量平臺(tái)，可以對(duì)極小的尺寸的測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行精準(zhǔn)定位測(cè)量，同樣也可以進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量

用戶友好的Z軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)控制
用于精確定位的三種放大倍率的顯微鏡且可以自動(dòng)識(shí)別和對(duì)焦
大理石框架結(jié)構(gòu)保證幾何穩(wěn)定性，減少熱漂移和震動(dòng)影響
主動(dòng)減震臺(tái)進(jìn)一步減小環(huán)境震動(dòng)的影響
支持搖桿及鼠標(biāo)定位，配合直觀的WIN-HCU® 測(cè)量軟件設(shè)定測(cè)量參數(shù)，易操作

Picodentor HM500納米級(jí)涂層硬度測(cè)試儀典型應(yīng)用
硬質(zhì)合金涂層和超薄DLC涂層防污層(如溶膠凝膠層)
電腦硬盤或CD的表面膜層 超薄的涂料層或油漆層
離子注入表面
傳感器表面的納米涂層
植入體/醫(yī)療應(yīng)用
合金中基體效應(yīng)
生物材料
陶瓷材料
拋光截面的性能測(cè)定
多樣品或多測(cè)量點(diǎn)的自動(dòng)化測(cè)量