ST-20掌上型方塊電阻測試儀
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

ST-20掌上型方塊電阻測試儀
1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定
2、低功耗
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4、 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6、探頭帶抗靜電模塊
ST-20掌上型方塊電阻測試儀

測量范圍	基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口) 擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度	≤5%
探針規(guī)格	探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源	測量過程誤差：≤±0.8%
電源	9V疊層電池1節(jié)